테스트 비용 절감, 시간 단축, 측정 정확성 높인 솔루션
RF/아날로그 중심 반도체의 RF 및 혼합 신호 테스트에 적합
 
내쇼날인스트루먼트(이하 NI)는 ‘세미콘 코리아 2017(SEMICON KOREA 2017)’에 참가하여 반도체 테스트 통합 솔루션과 데모를 선보인다고 밝혔다.
 
이번 전시회에서 한국NI는 반도체 테스트 비용을 절감하고, 테스트 시간을 단축하며, 측정 정확성을 확보할 수 있는 최신 솔루션들을 공개할 예정이다.
 
NI STS(Semiconductor Test System)는 반도체 양산 환경에서 사용할 수 있다. 기존의 대형 ATE보다 작은 작업 공간에서 사용 가능하며, 전력 소모량과 유지보수 노력을 줄여준다. 또한 고성능 테스트가 가능하기 때문에 보다 복잡한 기능이 요구되는 RF 파워 앰프, 전력 관리 IC(PMIC)와 같은 RF/아날로그 중심 반도체의 RF 및 혼합 신호 테스트에 적합하다.

 

NI WTS(Wireless Test System)는 IoT 디바이스의 다양한 무선 통신 규격을 동시에 테스트할 수 있으며, PXI 기반 자동화 테스트 솔루션은 효율을 극대화시킨다. 이외에도 NI의 그래픽 기반 시스템 디자인 소프트웨어 랩뷰(LabVIEW), R&D와 양산에 적용 가능한 ATE급 벡터 솔루션, 올인원 계측기 버추얼벤치(VirtualBench), 휴대용 데이터 측정 플랫폼, 다채널 오픈쇼트 테스트 등을 데모를 통해 확인할 수 있다고 전했다.  
 
한국NI 반도체 테스트 솔루션 담당 권순묵 대리는 “이번 행사에서 NI는 랩뷰(LabVIEW)와 PXI 기반의 모듈형 계측기를 이용하여 R&D부터 양산까지 모든 테스트 과정에 동일하게 적용 가능한 테스트 자동화 솔루션을 선보이며, 아울러 반도체 전공정 장비에 적용되는 임베디드 컨트롤/측정 솔루션도 소개할 예정이다”라고 말하고, “고객들이 테스트 및 측정 산업의 글로벌 리더인 NI의 최신 반도체 테스트 장비들을 체험하면서 NI의 기술력을 직접 확인하고 폭넓게 활용할 수 있기를 바란다”고 덧붙였다.
 
한편, 한국NI 부스(코엑스 3층 D홀 5604)에서는 전시 및 데모 시연과 함께 전문 엔지니어의 제품 상담이 진행될 예정이다. NI 부스 방문자에게는 소정의 기념품을 제공하고, 경품 추첨 이벤트를 통해 NI와 공동 개발한 랩뷰(LabVIEW) 기반의 레고 마인드 스톰을 증정한다.