| 텔레다인 르크로이, 하나의 장비에서 VNA, TDR 기능 제공하는 고속 인터커넥트 분석기 웨이브펄서 40iX 발표… 단 한 번의 신호 포착으로 시간 및 주파수 도메인 세부 정보 동시 제공
 
텔레다인 르크로이는 5일, 인터커넥트 테스트 및 검증을 위한 솔루션인 고속 인터커넥트 분석기 웨이브펄서(WavePulser) 40iX를 선보였다.

웨이브펄서 40iX는 고속 하드웨어 설계자와 테스트 엔지니어가 PCI 익스프레스, HDMI, USB, SAS, SATA, 파이버 채널(Fibre Channel), 인피니밴드(InfiniBand), 기가비트 이더넷, 자동차 이더넷과 같은 고속 시리얼 프로토콜 분야에서 인터커넥트 및 케이블을 특성화하고 분석하는데 적합하다.
 
인터커넥트 테스트 및 유효성 검사는 지금까지 시간 도메인 테스트 및 주파수 도메인 테스트 두 가지로 구분되었다.
 
전자의 경우 신호 무결성 엔지니어가 TDR을 사용하여 임피던스 프로파일을 생성함으로써 스텝/임펄스 응답을 특성화했다.
 
TDR은 얼마나 길이를 세분화할 수 있는 지를 나타내는 높은 공간 분해능을 특징으로 하며, 임피던스 프로파일의 변화를 바탕으로 전송선의 손상 위치를 정확하게 지정할 수 있다.
 
후자의 경우 높은 동적 범위를 특징으로 하는 VNA는 마이크로파 엔지니어가 RF 부품의 S-파라미터를 측정하는 데 일반적으로 사용된다.
 
VNA를 고속 인터커넥트 테스트에 적용하려면 DC 값을 추정해야 하고, 시간 영역 시뮬레이션, 에뮬레이션, 시간 게이팅 및 지터 분석을 수행하려면 별도의 분석도구를 사용해야 할 필요가 있다.
 
타임 도메인과 주파수 도메인 테스트를 동시에 제공하지 못하는 테스트 장비는 고속 인터커넥트를 테스트하고 검증하는 설계 엔지니어의 요구를 완벽하게 충족시키지는 못한다.
 
웨이브펄서 40iX는 시간 및 주파수 도메인 특성화를 통합함으로써 고속 인터커넥트 테스트 및 검증 단계를 단순화한다.
 
새 제품은 단일 장비에서 단 한 번의 신호 포착으로 벡터 네트워크 분석기(VNA)에서 제공하는 S-파라미터 주파수 도메인 분석과 TDR에서 제공하는 임피던스 프로파일을 제공하여 인터커넥트 시스템 특성화를 수행하며, 심층 분석 기능도 제공한다.
 
웨이브펄서 40ix는 시리얼 데이터 케이블, 채널, 커넥터, 비아, 백플레인, 인쇄 회로 기판, 칩 및 SoC 패키지 등을 특성화하여 물리적 신호 경로의 복잡성을 해소한다.
 
측정된 S-파라미터는 시간 게이팅, 인터커넥트의 디 임베딩, 아이 다이어그램, 최적화된 이퀄라이제이션 설정, 시리얼 데이터 패턴 시뮬레이션 및 구성 요소로의 고장과 함께 고급 지터 분석을 포함한 추가 분석에 사용될 수도 있다.
 
텔레다인 르크로이 신호 무결성 담당 이사 에릭 보거틴(Eric Bogtin)은 “웨이브펄서 40iX는 하나의 장비에서 주파수 도메인과 타임 도메인 결과를 동시에 제공하여 조립이 잘못된 커넥터, 물리적으로 손상된 케이블 또는 채널의 불연속 지점과 같은 장애가 발생한 위치를 탐지할 수 있다”라고 말했다.
 
이어 “불연속 지점은 DUT의 주파수 응답에 분산되어 나타나기 때문에 주파수 도메인 응답만을 보이는 S-파라미터만으로는 찾아낼 수가 없지만, 웨이브펄서 40iX는 1mm 미만의 길이 분해능으로 쉽게 해당 위치를 식별하고 찾아낼 수 있다”라고 설명했다.
 
또한 “DC에서 40GHz까지 싱글 엔드(single-ended) 및 혼합 모드 S-파라미터 측정(시뮬레이션 가능)을 제공하며, 웨이브펄서 40iX를 없이, S-파라미터를 측정하고 픽스쳐 디임베딩, 시간 또는 주파수 도메인을 싱글엔드 또는 혼합 모드로 표시하고 아이 다이어그램을 시큘레이션을 수행한다면 4가지 서로 다른 소프트웨어 도구가 필요할 수 있다”고 밝혔다.