Verigy, 차세대 IC 테스트 비용 절감을 위해 반도체 업계 최초의 확장형 테스터 V93000 Smart Scale 출시

고급 28nm 장치 및 3D 아키텍처를 위해 설계된 새로운 세대의 “스마트” 테스트 시스템과 디지털 채널 카드

캘리포니아 주 쿠퍼티노–2011년 7월 25일 – Advantest Group (TSE: 6857, NYSE: ATE) 계열사인 Verigy 는 3D 기기 아키텍처와 28nm 테크놀로지 노드 이상의 IC 설계를 포함하여 고급 반도체 설계를 위해 업계 최초의 확장 가능한, 고비용효율 테스터 제품군을 출시한다고 발표했다.

생산 과정에서 성능이 입증된 Verigy의 V93000 플랫폼과 완전 호환되는 Smart Scale 시리즈는 고급 핀당(per-pin) 역량을 갖춘 혁신적인 “스마트” 테스터 제품군이다. 스마트 테스팅”이란 각 핀이 자체 클럭 도메인으로 작동되어 테스트 대상인 기기의 정확한 데이터 처리 속도 요건과 일치함으로써 완전한 테스트 기능을 제공하는 것을 의미한다. 전원 공급 모듈레이션, 지터 인젝션(jitter injection) 및 프로토콜 커뮤니케이션과 같은 다른 핵심 기능들과 함께, ATE 수준에서 시스템 급의 스트레스 테스트를 수행할 수 있어, 오류 모델 처리 범위를 개선해 준다.

“당사의 혁신적인 V93000 Smart Scale Generation 테스트 시스템과 핀 카드로 Verigy는 고객들의 테스트 비용을 절감할 수 있도록 고객에게 맞는 솔루션을 제공하는 보다 ‘스마트’한 테스트 기술을 개척해 가고 있다.” 라고 한스 유르겐 바그너(Hans-Juergen Wagner) Verigy(Advantest Group 계열사) SOC 테스트 담당 집행 부사장은 말했다.
A, C, S 및 L로 각각 명명된 4개의 Smart Scale 테스터 클래스는 테스트 헤드 크기가 각기 달라 각 사용자의 특정 응용 작업에 가장 효율적인 솔루션을 공급할 수 있게 해준다.

바그너 부사장은 다음과 같이 덧붙였다. “각 테스터 클래스들이 서로 완벽하게 호환되기 때문에 사용자들은 자신의 반도체 기기의 사용 수명 주기 동안 IC 생산량이 변경되는 경우 그 기기를 한 Smart Scale 클래스에서 다른 클래스로 신속하고 쉽게 이동할 수 있다. 이런 역량을 제공하는 다른 자동화 테스트 기기 제공업체는 존재하지 않는다.”

Verigy의 독특한 접근방식은 병렬 테스트 및 업계 최초의 웨이퍼 분류 단계에서 완전 성능 테스트 솔루션 제공을 가능하게 해 준다 – 이는 고급 시스템 온 칩(SOC) 기기, 시스템 인 패키지(SiP) 기기 그리고 웨이퍼 수준 칩 스케일 패키지-(WLCSPs)를 테스트하는 데 핵심적인 성능 요건이다.

V93000 Smart Scale 테스터와 함께 Verigy는 3개의 신제품 디지털 채널 카드도 출시한다.
새로운 Pin Scale 1600 디지털 카드와 Pin Scale 1600-ME(메모리 에뮬레이션) 카드는 각 디지털 채널마다 업계에서 가장 폭 넓은 역량을 제공한다. DC에서 이전 세대 제품보다 두 배 빠른 초당 1.6기가비트에 이르는 범위의 데이터 처리 속도를 제공하는 것 외에 이 카드 제품들은 또한 이전 핀 카드의 밀도보다 2배 또는 4배에 이르는 밀도를 제공한다. 고집적이 아주 새로운 소형인 이 새로운 PS1600 카드에는 Verigy사의 Clock-Domain-per-pin(각 핀 당 clock domain 설정 가능), Protocol-Engine-per-pin(테스트시 시스템과 같은 환경을 모든 핀 별로 설정 가능), PRBS-per-pin(각 핀 당 하드웨어적으로 PRBS drive/receive 가능), 과 SmartLoop 테스트(베리지에서 제공하는 새로운 Loop-Back test) 등의 기능들이 Symmetrical high-speed interface를 위하여 포함되어 있다.

또한 이 제품들은 정밀한 DC 테스트가 가능하며 멀티사이트시의 고효율성과 Concurrent test를 위한 비동기 테스트가 가능하다.

Verigy사의 새로운 PS9G 카드는 at-speed-test를 가능하게 해 준다. PS1600의 핀 별로 구현 가능한 여러가지 기능과 데이타 레이트를 8Gbps까지 높일 수 있으므로 이 카드는 사용빈도가 아주 높을 것으로 기대된다. 이 PS9G 카드는 모든 핀들이 bi-directional로 사용될 수 있으며, 또한 single-ended 모드와 differential 모드를 지원한다. 또한 패턴 및 패턴리스 테스트를 모두 수행하여 대량 생산에서 설계 검증을 위한 병렬 I/O 테스트에서 직렬 물리적 레이어(PHY) 테스트에 이르기까지 광범위한 테스트 요건을 충족시켜 줄 수 있다