2011년 11월 17일 – 세계 선두의 첨단 전기 시험 계측기 및 시스템 제조사인 키슬리 인스트루먼츠(지사장 양석용)는 업계에서 많은 인기를 얻고 있는 KTE(Keithley Test Environment) 반도체 시험 소프트웨어의 업그레이드 버전을 발표했다. KTE Version 5.3은 현재 속도가 가장 빠르고 경제적인 공정 제어 감시 솔루션인 S530 파라메트릭 시험 시스템과 함께 동작하도록 설계되었다. KTE V5.3에 대한 상세한 정보는 http://www.keithley.com/data?asset=55833 참조.

KTE는 키슬리의 기존 파라메트릭 시험 시스템을 통해 전세계 수백 개의 반도체 팹에서 사용되어온 강력한 시험 개발 및 실행 소프트웨어 플랫폼이다. 업계에서 입증된 이러한 동일 소프트웨어 플랫폼이 키슬리 S530 시험 시스템에서도 적용됨에 따라 가장 까다로운 생산 환경에서도 유연한 시험 계획 개발과 빠른 속도의 시험 실행이 가능해졌다. 기존 측정 루틴들이 S530으로 쉽게 이식될 수 있고, 기존 테스터와 신규 S530 시스템간 동일한 시험 계획이 공유될 수 있으므로 특히 기존 키슬리 S400과 S600 시리즈 파라메트릭 테스터 사용자들은 S530의 KTE 버전 5.3 혜택을 누릴 수 있다.

S530으로 KTE 시험 개발과 실행 환경을 확장시키면 30년에 걸친 키슬리의 파라메트릭 시험 코드 개발 현장 경험과 시장에서 가용한 가장 빠른 최첨단 시스템 하드웨어를 동시에 누릴 수 있다. S530 계측기는 공정 제어 감시 같은 파라메트릭 시험 애플리케이션이 요구하는 빠르고 광범위한 측정 범위를 제공한다.

키슬리는 기존 시스템과 높은 호환성을 지니는 새로운 시험 시스템을 제공함으로써 자사의 파라메트릭 시험 고객 지원에 최선을 다하고 있다. 소프트웨어 호환성을 유지하려는 이러한 노력은 새롭고 빠른 테스터가 시험 플로어에 추가될 때 원만한 이전을 보장하고 팹 시험 소프트웨어 투자비를 보호해준다. 시스템 소프트웨어 연속성 보장을 위한 이러한 노력은 새로운 키슬리 파라메트릭 시험 고객에게 자신의 시험 시스템이 업계에서 입증된 소프트웨어에 기반한다는 확신을 심어줄 수 있음을 의미한다.

이미 기존 버전의 KTE를 사용하는 고객들은 KTE V5.3을 이용해 기존 테스트 플로어에 S530을 빠르고 간단하게 통합할 수 있다:

• 동일한 시험 방법과 계획이 모든 키슬리 자동화 파라메트릭 시험 시스템에 사용될 수 있어 다수의 시스템으로 작업하는 시험 엔지니어와 사용자의 학습 곡선을 짧게 만들어 줄 뿐 아니라 시험 플로어에 새로운 고속 시스템을 추가하거나 교체할 때 팹 시험 개발 투자비를 보호하는 원만한 이전 경로를 제공한다.
• 사용자는 기존 키슬리 시스템용으로 오랫동안 개발된 친숙한 라이브러리를 S530에 맞게 재 컴파일 및 빌드 후 계속 작업할 수 있다.
• KTE V5.3은 조건부 시험 시퀀싱을 위한 새로운 UAP(User Access Point) 소스 코드 생성과 S530의 시스템 동작 플로우 커스터마이징을 간소화한다. 기존 키슬리 시스템용으로 개발된 UAP 소스 코드는 최소한의 수정으로 S530에 적용될 수 있다.
• KTE 도구들은 모든 키슬리 파라메트릭 시험 플랫폼에서 동일하게 동작한다.

S530용 KTE는 장시간 안정성과 간편한 관리를 위해 표준 산업 PC의 리눅스 운영 시스템에서 동작하도록 설계되었다. 소프트웨어는 대량 생산 시험 환경의 속도와 연장된 안정성에 맞게 최적화되었다. KTE V5.3에서 동작되는 S530 시스템은 공정 제어 감시, 공정 안정성 감시, 디바이스 특성화에 필요한 모든 DC I-V와 C-V측정을 할 수 있다. 이 시스템은 광범위한 제품 조합을 수용해야 하거나 넓은 애플리케이션 유연성과 빠른 시험 계획 개발이 중요한 생산 파라메트릭 시험 환경 사용에 최적화되었다.

추가 정보
모델 S530용 KTE 버전 5.3에 대한 추가 정보는 http://www.keithley.com/data?asset=55833에서 제공된다. S530 시스템 옵션에 대한 문서는 http://www.keithley.com/data?asset=55774에서 다운받을 수 있다.