1210 Analog Day
애질런트 B1505A를 이용한 Wide Band-Gap 파워 소자의 전기적 특성 측정

2014-04-22 10:30~14:00

Keysight / 김진홍 부장

  • 김*완2014-04-22 오전 11:39:17

    Cap 측정시 따로 Calibration을 진행해야 되는지요 ?
  • agilent02014.04.22

    매번 하실 필요는 없습니다. 하지만, 측정cable을 변경하시거나 소자를 제외한 나머지 부분의 part를 변경하실 경우 그리고 측정하실 cap이 sub pF이하의 낮은 측정인 경우 B1505A에 있는 correction을 이용하시면 됩니다.
  • 김*규2014-04-22 오전 11:35:51

    오늘 소개해 주신 B1505A는 2012년 업계 최초로 발표된 장비로 알고 있습니다만 이후 타사에서 발표된 장비와 비교 우위에 있는 장점은 어떤게 있는지요 ?
  • agilent02014.04.22

    정식 release는 2009년도입니다. 2012년에는 spec확장이 되었습니다.장정은 option에 따라서 현재 나와있는 curve tracer모델중 가장 광범위한 영역을 지원하고, high voltage CV를 지원합니다. 그리고 fast switching을 이용한 current collapse측정과 device 온도 측정기능이 있습니다.
  • 김*완2014-04-22 오전 11:29:26

    Ron 측정 시 zig의 internal 저항이 보상이 되어 있는지요?
  • agilent02014.04.22

    4 단자 측정에서 sense단을 device에 가장 가깝게 하시면 크게 보상하실 필요는 없습니다. 일반적인 line저항과 접촉저항 성분을 제거하기위해 사용하는 방법이라서요.
  • sang***2014-04-22 오전 11:27:22

    커런트 커랩스 측정시 전압소스에서 전류소스로 변환시 문제가 되지 않나요? 소스변환시간이 빨라서 문제가 없나요?
  • agilent02014.04.22

    현재 최소 20usec의 스위칭 time을 가지고 있고 특별한 문제는 없습니다. 그리고 단순히 스위칭을 하는 것이 아니라 고압/고전류 변환시 안정적 신호를 보내기위해 해당 module과 스위치박스는 연동이 되어있습니다.
  • 이*원2014-04-22 오전 11:24:13

    이 장비가 Die chip level에서도 (probe station을 이용)가지고 측정할 수 있는 구조인가요?
  • agilent02014.04.22

    네, 일부 probe station의 경우 B1505A와 연결가능한 option이 있습니다. prober station의 경우 회사마다 다르지만 최대 200A나 3000V를 지원하기도 합니다.
  • 정*호2014-04-22 오전 11:23:02

    혹시 상온이 아닌 저온,고온에서도 시험이 가능한가요 ? 즉 온도특성에 따른 변화도 측정이 되는지 ...
  • agilent02014.04.22

    B1505A의 경우 외부 온도조정은 안됩니다. 다른 장비를 이용해서 온도를 가하시고, zig를 구성하시면 B1505A를 연결해서 측정하실수 있습니다. 일반적이로 이렇게 많이 사용하고 계십니다.
  • 김*완2014-04-22 오전 11:22:20

    breakdown 측정 방법에서 Tektronic사의 370혹은 371A처럼 continue Pulse가 인가 되는 것인지요?
  • agilent02014.04.22

    일반적으로 break down 측정은 DC로 많이 합니다. pulse도 가능합니다
  • sang***2014-04-22 오전 11:18:46

    BREAKDOWN 용어의 의미가 뭐죠?
  • agilent02014.04.22

    항복전압입니다. device가 off status인 경우 Drain이나 Gate만 전압을 인가 했을때 얼마나 견뎌주느냐 하는 것을 보기위한 것입니다.
  • sang***2014-04-22 오전 11:16:09

    파워소자가 사용중 파괴가 되는 이유는 대부분 무엇인가요? 모터 연결시 역기전력 때문인가요. 파워소자가 파괴되는 조건을 이 계측기로 시뮬레이션 가능한가요? 가상의 역기전력 발생...
  • agilent02014.04.22

    문의하신 내용을 볼려면 dynamic 특성을 보셔야 할 거 같습니다, short circuit이나 unclamped test같은.. dynamic에 대한 부부은 성격이 다른 측정법이과 다른 장비를 사용하셔야 합니다.
  • 정*호2014-04-22 오전 11:12:51

    GaN 시장이 아직 SiC 보다 덜 발달된 것 같은데 그 이유가 부품의 안정성이나 비용등에 따른건가요 아니면 다른 이유가 있나요 ?
  • agilent02014.04.22

    제조의 어려움과 단가이지요... GaN의 경우는 기본 자재를 만드는 것도 SiC보다 어렵고, 소자 특성도 조금 다릅니다.
인터넷신문위원회

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