실리콘 랩스
고속신호 측정을 위한 오실로스코프 활용

2016-07-05 08:30~13:00

Jays / 권오성 과장

  • 박*홍2016-07-05 오전 11:09:30

    probe embedding과 de-embedding 고려시 측정했을때 얼마나 차이점이 발생하나요?
  • Jays12016.07.05

    측정시 프로브와 픽스쳐의 영향이 있기에 de-embedding을 하시면 더 정확한 측정이 가능하십니다
  • 무명2016-07-05 오전 11:08:44

    시스템의 주파수에 따라 프루빙에 의한 영향이 클것 같은데.. Key sight에서는 어느 정도 주파수 까지 큰 영향 없이 측정이 가능한가요?
  • Jays12016.07.05

    측정하시는 항목에 따라 다양한 프로브를 제공합니다. 20GHz부터 TDR프로브가 제공됩니다
  • 이*휘2016-07-05 오전 11:08:32

    별도S/W하는 툴에 데이터를 누적측정하였던 자료들을 비교하여 보일수 있도록 하는 기능이 있는지 궁금하네요.
  • Jays22016.07.05

    장비에 따라 차이가 있습니다만.. 아무래도 특화된 기능은 별도로 제작이 필요할 수 있습니다. (주)제이스 에서 프로그램 주문제작도 하고 있습니다. ^^
  • 전*상2016-07-05 오전 11:06:32

    평소에 궁금했던 사항인데 High speed signal에서 impedance는 pattern width에 영향이 가장 큰데 불가피하게 width 줄여야하는 부분이 있는경우 동일하게 모든 pattern 를 줄여서 하는 것이 좋은 건지, 불가피 하지 않는 부분은 넓게 유지하는 것이 좋은 건가요?
  • Jays12016.07.05

    모든 width를 줄이면 신호의 loss가 많아질수도 있는등의 부작용이 발생할수 있습니다. 보다 정확한 시뮬레이션을 통해서 설계와 측정을 하시는게 좋으실듯 합니다
  • 전*상2016-07-05 오전 11:06:19

    측정 솔루션에 이런 질문에 해도 되는지 모르겠지만 ^^;;;
  • Jays22016.07.05

    네 해주세요~ ^^
  • 박*홍2016-07-05 오전 11:05:59

    지터측정에는 별도 S/W가 필요한가요 아니면 오실로스코프 자체에서 지원하는건가요?
  • Jays32016.07.05

    오실로스코프에 SW 옵션이 별도로 필요합니다.
  • 최*민2016-07-05 오전 11:04:55

    지터나 TDR 결과나 나쁠경우 주파수 interference가 발생한다고 하는데,,, 이를 측정하여 해소하면 interference도 해결되는지요?
  • Jays12016.07.05

    정확한 측정을 통해서 원인을 파악하시고 해결하시면 되실듯 합니다
  • 유*섭2016-07-05 오전 11:04:48

    TDR기능이 있는 오실로스코프 모델명이 ?
  • Jays22016.07.05

    Keysight 사의 DCA-X 시리즈 라고 불리우는 86100D 라는 제품군에 필요한 사양의 TDR 모듈을 장착하셔서 사용하시면 됩니다.
  • 장*재2016-07-05 오전 11:03:08

    측정데이터를 파일로 받거나 다른장비와 연동하여 데이터를 불러들일 방법이 있을까요?
  • Jays22016.07.05

    가능합니다. 장비를 컨트롤 하거나 데이터 받기, 혹은 연동이 가능한 S/W 를 Keysight 에서 제공하고 있으며, 별도로 제작하실수 있도록 Programming 메뉴얼도 제공해 드립니다.
  • 무명2016-07-05 오전 11:03:04

    [질문] 전송선로의 특성을 측정하는 방법중에서 반사손실과 삽입손실인 S-parameter에 대해 다시한번더 자세한 설명과 실무에의 응용방법을 요청 드립니다.
  • Jays12016.07.05

    나중에 별도로 연락드리겠습니다
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