VectorStar 및 ShockLine 시리즈, 엔지니어에게 향상된 성능 제공 
고속 데이터 속도 및 고도로 확장된 회로 문제 해결

안리쓰는 VectorStar 및 ShockLine 벡터 네트워크 분석기(VNA)를 위한 옵션을 추가하여 신호 무결성(SI: signal integrity) 엔지니어가 원하는 테스트 요건을 충족할 수 있는 제품을 지속적으로 개발한다고 발표했다. 

VectorStar Eye Diagram 및 ShockLine ATD(Advanced Time Domain) 옵션은 안리쓰 제품들의SI 기능이 더욱 확장된 것으로 SI 엔지니어들에게 고속 디지털 회로 설계에 대한 채널 진단 및 모델 검증 확인을 수행할 수 있는 향상된 툴을 제공한다. 

안리쓰의 선임연구원 존 마틴스(Jon Martens) 박사는 “데이터 속도가 지속적으로 증가함에 따라 신호 채널 특성화 과정은 점점 까다로워지고 있다. 즉, VNA는 신호 무결성 측정이 더 주요한 요소로 자리잡았기 때문에 데이터를 처리하고 분석하는 기능들을 확장하는 것은 매우 유용하다. 이러한 이유로 VectorStar 및 Shockline VNA제품군에 더 많은 툴이 추가되고 있으며 신호 무결성 엔지니어들이 자신들의 설계를 더 효율적으로 분석할 수 있도록 지원한다”고 말했다. 


VectorStar 및 ShockLine VNA 제품군은 다양한 범위의 애플리케이션에서 필요한 측정 요건을 SI 엔지니어들이 충족할 수 있도록 보완적인 성능을 제공한다. VectorStar는 안리쓰 제품 중 최고 성능을 지원하는 VNA 제품 라인으로 가장 까다로운 설계 요건을 해결하는 SI 엔지니어들이 사용하고 있다.

예를 들어 어떤 설계자들은 자신들의 테스트 시스템이 최대 5차 고조파의 시스템 클록을 포함할 수 있기를 희망한다. VectorStar 는 하나의 동축 연결을 통해 70 kHz 에서부터 70 GHz, 110 GHz, 145 GHz까지 2포트/4포트 광대역 구성을 제공하며 25/28 Gbps 및 43 Gbps을 포함한 가장 최신 디지털 데이터 속도를 지원한다. 안리쓰의 ShockLine VNA 제품군도 뛰어난 성능을 제공하나 저렴한 가격대에서 덜 까다로운 SI 애플리케이션에서 적합한 성능을 제공한다. 이 같은 특징 때문에 ShockLine VNA 제품들은 데이터 전송 속도가 좀 더 낮은 시스템이나 제조 분야에 더 적합하다. 
  
VectorStar 아이 다이어그램(Eye Diagram) 

VectorStar는 5G 및 IoT와 같은 새로운 네트워크 시스템을 지원하기 위해 꼭 필요한 고속 데이터 전송 요건을 설계하는 SI 엔지니어들에게 매우 적합하다. 새로운 Eye Diagram 옵션은 기존 파일 기반 기법과 다르게 트레이스 기반 프로세스를 통해 VectorStar 디스플레이를 업데이트하여 SnP 파일을 수동으로 전송할 필요성을 없애준다. 다른 VNA 제품들과 다르게 S파라미터 성능을 파일로 저장할 필요가 없어 아이 다이어그램을 관찰한 파일을 불러오면 된다. 이 기능은 측정 효율성, 분석, 데이터 전송 신호 경로 튜닝 등을 획기적으로 향상시켜, 사용자들은 거의 실시간으로 회로 변경에 대한 결과를 볼 수 있다. 

혁신적인 방식을 통해 엔지니어들은 레벨 압축, 지터, 슬루, 에지 왜곡과 같은 효과로 인해 비트 오류의 가능성을 관찰하면서 향상된 성능으로 조정할 수 있다. 이 방식은 주어진 전송 경로 내에서 발생하거나 정확하게 서브시스템 오류 위치 분석을 수행하는데 도움을 줄 수 있는 데이터 스트림 SI 문제를 확인하는데 특히 가치가 있다. 

VectorStar의 업계 선도적인 주요 성능이 결합된 새로운 옵션은 SI 엔지니어들에게 디지털 변조 신호의 전송 품질을 모니터할 수 있는 기능을 제공한다. VectorStar는 아이 다이어그램, 타임 도메인/TDR, S-파라미터와 같은 모든 핵심 요소를 동일한 채널에서 디스플레이 할 수 있는 독자적인 성능을 제공하면서 지속적으로 스위핑(sweeping) 기능을 제공한다. 

ShockLine VNA를 위한 ATD(Advanced Time Domain) 

MS46522B/MS46524B 기능 시리즈를 위해 설계된 ATD 옵션은 회로 모델을 설계하고 검증 측정을 수행하는 SI 엔지니어를 위한 툴을 제공할 뿐만 아니라 SI 문제를 위한 트러블 슈팅 기능을 제공한다. ATD 옵션은 아이 다이어그램을 구성하고 단일 종단 또는 차동형의 NEXT(near-end crosstalk) 및 FEXT(far-end crosstalk)를 결정하면서 다양한 방정식 기법을 적용하는 기능을 포함해 보급형 SI 기능을 부분적으로 포함한다. 

ATD 옵션을 이용할 경우 엔지니어들은 IEEE 및 OIF 등 여러 규격들 중에서 선택할 수 있는 결합 잡음의 총전력, ICR(insertion loss crosstalk) 비율, 삽입 손실, ILD(insertion loss deviation), ICN(integrated crosstalk noise)을 비교할 수 있다. 또한 S파라미터 데이터를 임피던스 프로파일, 오픈 엔드 기능의 TDR(time domain reflection) 또는 매치 터미네이션(matched termination) 기능의 TDR/TDT(time domain transmission)으로 변환할 수 있는 플롯 TDR, TDT, 스큐 유틸리티(Skew utility)의 특징도 갖추고 있다. 

VectorStar 아이 다이어그램 및 ShockLine ATD 옵션 출시로 엔지니어들은 SI 설계 및 채널 모델링 요건을 충족할 수 있는 더욱 완벽한 셋트를 갖출 수 있게 되었다. 애플리케이션이 최고 성능으로 VectorStar VNA의 전체 기능 성능을 요구하거나 ShockLine 제품군을 통해 저렴한 비용으로 최고 성능을 요구하던지 간에 안리쓰는 현재 또는 미래의 SI 과제를 위한 포괄적인 솔루션을 제공한다.