제조 테스트 비용 줄이고 시스템 풀질 향상하는 기술
 
멘토, 지멘스 비즈니스는 차량용 반도체 안전 표준인 ISO 26262 적격성을 유지해 주는 자사의 Tessent ScanPro 및 Tessent LogicBIST 제품에서 VersaPoint 테스트 포인트 기술을 사용할 수 있게 되었다고 발표했다.
 
VersaPoint 테스트 포인트 기술은 제조 테스트 비용을 절감해주고 시스템 내 테스트의 품질을 향상시킨다. 이 두 요건은 자동차를 비롯한 여러 산업 분야에서 신뢰성 높은 IC를 구현하는 데 필수적이다. 멘토는 또한 르네사스 일렉트로닉스의 오토모티브 IC에 VersaPoint 기술이 채택되었다고 발표했다. 이는 안전 필수 테스트 요건에 부응하여 ASIL(차량 안전성 보전 등급) C 및 D 인증을 달성하기 위해서다.
 
오토모티브 IC의 디지털 회로는 일반적으로 온칩 압축/ATPG 기술과 로직 내장 셀프 테스트(LBIST) 기술의 하이브리드 솔루션을 이용해 테스트되며, 이를 통해 제조 테스트에서 매우 높은 결함 커버리지를 달성하고 시스템 내 셀프 테스트와 전원인가시 셀프 테스트(POST)를 실현한다.
 
테스트 포인트는 테스트 결과를 향상시키기 위해 사용되는 전용 설계 구조물이다. 전통적인 LBIST 테스트 포인트는 IC 내의 “랜덤 패턴 저항” 문제를 다룸으로써 향상된 결과를 제공한다. 멘토가 보다 최근에 온칩 압축/ATPG 전용으로 개발한 테스트 포인트는 ATPG 패턴 수를 온칩 압축만으로 달성할 수 있는 것보다 2~4배 이상 줄여준다. Tessent VersaPoint 테스트 포인트 기술은 이러한 기술들을 결합하고 향상시킨다.
 
르네사스 일렉트로닉스사의 오토모티브 SoC 사업부 부사장인 히사노리 이토(Hisanori Ito) 는 “르네사스는 업계 최고의 오토모티브 IC를 구현하기 위해 테스트 포인트를 이용해 엄격한 IC 테스트 요건 충족을 돕고 있다”고 말하고, “Tessent VersaPoint 테스트 포인트 기술을 이용하면 IC 유형이 달라도 더 이상 별도의 솔루션이 필요하지 않다. 그 결과, 제조 및 시스템 내 테스트 양 부문에서 품질 개선과 비용 절감이 이루어졌다. DFT 구현 흐름이 간소화 되어 개발 주기와 타임투마켓도 단축된다”라고 밝혔다.
 
Tessent VersaPoint 기술을 채택하면 LBIST 테스트 커버리지가 기존의 LBIST 테스트 포인트의 경우보다 높아지며, ATPG 패턴 수는 온칩 압축/ATPG 테스트 포인트를 이용할 때보다 감소된다. 이 기술은 Tessent Hybrid ATPG/LBIST를 사용하는 테스트 엔지니어들이 특히 자동차 애플리케이션을 겨냥한 IC 분야에서 비용 절감과 테스트 품질 향상을 달성하도록 설계되었다.
 
멘토의 티센트(Tessent) 제품군 마케팅 디렉터인 브래디 벤웨어(Brady Benware) 는 “우리의 고객들은 테스트 비용 절감 방안을 끊임없이 모색하고 있다. 디자인 크기가 증가하는 데다가 품질 요건이 더욱 엄격해지고 있기 때문이다”라고 말하며, “이와 동시에, 고신뢰성 애플리케이션에서는 효율적인 시스템 내 테스트에 대한 요구가 증가하고 있다. VersaPoint 테스트 포인트 기술이 제공됨에 따라 고객들은 제조 테스트 요건과 시스템 내 테스트 요건을 둘 다 충족시킬 수 있는 보다 효과적인 방법을 손에 넣게 되었다”라고 말했다.