최신 WBG 전력 반도체 측정을 위한 Tektronix 더블 펄스 테스트(DPT) 웨비나 **더 빠르게, 더 정밀하게!
SiC & GaN 기반 고속 스위칭 소자 테스트의 필수 솔루션**
와이드 밴드갭(WBG) 반도체인 SiC, GaN 채택이 늘어나면서, 더 높은 전압, 더 빠른 스위칭, 더 정밀한 측정이 필수 요건으로 떠오르고 있습니다.
이번 웨비나에서는 Tektronix 오실로스코프 기반 DPT 솔루션으로 스위칭 성능 측정의 주요 과제를 어떻게 해결할 수 있는지 소개합니다.
📌 웨비나 주요 내용
WBG 전력 반도체 테스트 트렌드 & 주요 과제
SiC & GaN의 고속 스위칭 특성 변화에 따른 측정 난이도
더블 펄스 테스트(DPT) 기본 원리와 필요성
스위칭 손실, EMI, 효율 평가의 핵심 테스트
공통 모드 노이즈 최소화를 위한 계측 기법
정밀 측정을 위한 노이즈 제거 방법
JEDEC/IEC 표준 기반 자동화 스위칭 손실 분석
고정밀 & 반복 테스트 환경 구현
고속 스위칭 환경에서 신뢰성 높은 전류·전압 측정
최신 프로브 기술로 신호 왜곡 최소화
Tektronix DPT 솔루션을 통한 Si, SiC, GaN MOSFET 및 IGBT 테스트 최적화
다양한 전력 소자에 적용 가능한 완성도 높은 테스트 솔루션 제공
⚙️ Tektronix DPT 솔루션의 차별화 포인트
✅ 최첨단 오실로스코프 & 프로브 구성
수백 MHz~GHz 대역에서도 신호 왜곡 없이 정밀 측정
IsoVu 절연 차동 프로브로 100dB+ 공통 모드 노이즈 제거
✅ 자동화된 테스트 & 분석 환경
JEDEC/IEC 표준 기반 스위칭 손실 자동 측정
소프트웨어 연동으로 테스트 반복 & 분석 효율 극대화
✅ 정밀한 펄스 생성 및 제어
AFG31000 임의 파형 발생기 내장 소프트웨어로
펄스 폭, 타이밍 직관적으로 설정 → DPT 최적화
✅ 원격 제어 지원
네트워크 연동으로 오실로스코프 원격 제어 가능
이런 분들께 추천합니다
✔️ Si, SiC, GaN MOSFET 및 IGBT 테스트 엔지니어
✔️ 정확한 스위칭 손실 평가로 시스템 효율을 높이고 싶은 분
✔️ 고속 스위칭 환경에서 측정 정밀도 & 안정성 확보가 필요한 분
최신 WBG 반도체 테스트, Tektronix DPT 솔루션으로
정밀 측정과 효율적 설계를 동시에 잡아보세요!