차세대 전력반도체 신뢰성의 기준

2026-04-21 10:30~12:00

e4ds / 이형석 책임연구원, 성웅용 이사

웨비나정보 웨비나Q&A

이*재2026-04-21 오후 12:02:02
수고하셨습니다
e4ds2026.04.21
감사합니다! 다음 웨비나도 기대해주세요
민*우2026-04-21 오전 11:57:56
수고하셨습니다. 감사합니다.
e4ds2026.04.21
감사합니다! 다음 웨비나도 기대해주세요
이*엽2026-04-21 오전 11:46:43
Body Diode system 한번 test에 몇 개의 DUT test가 가능하며 MAx Current capability가 어떻게 되나요?
NI_012026.04.21
안녕하세요, NI성웅용입니다. DUT갯수와 Max current의 경우는 고객사의 정보의 노출이 될 수 있어서 따로 뵙고 설명 드릴 수 있을 것 같습니다.
이*혁2026-04-21 오전 11:35:52
반도체 스위치 소자 신뢰성 시험 기준에 대해 문의 드립니다.
NI_012026.04.21
방송되고 있는 영상은 AQG-324 시험기준에 대한 소개와 그 기준에 맞추어서 테스트 할 수 있는 NI장비에 대해 소개해 드리고 있습니다. 자세한문의는 직접 방문을 통해 안내해 드릴 수 있을 것 같습니다.
JooH***2026-04-21 오전 11:30:14
잘 몰라서 질문 드리는데, 결국 AEC-Q100 인증을 받은 반도체 부품을 사용한 모듈을 AQC-324로 자동차회사에서 test하는 걸로 이해를 하면 되나요?
NI_012026.04.21
AEC-Q100인증을 위한 테스트와 AQG-324 테스트를 하는 것은 병행한다고 생각해 주시면 됩니다. 최종 고객에 따라 AQG-324 에 정의된 테스트들만 실행 하실수도 있고 AEC-Q100 규약을 하실 수도 있습니다.
JooH***2026-04-21 오전 11:23:17
AEC-Q100은 고려가 안되나요?
NI_012026.04.21
안녕하세요, 한국 NI성웅용입니다. AEC-Q100도 고려해야 합니다. 어느테스트를 해야 하는지는 최종고객의 요청사항에 따라 달라질 수 있을 것 같습니다.
이*성2026-04-21 오전 11:20:17
GaN 가 모바일 PA 에도 적용될 수 있을까요
이*혁2026-04-21 오전 11:10:36
전력반도체 신뢰성 평가를 위한 시험 기준/규격에 대해 문의 드립니다.
NI_012026.04.21
안녕하세요, NI성웅용입니다. 기준과 규격의 어느부분을 문의 주시는지 1:1 으로 답변 드리겠습니다.
NI_012026.04.21
안녕하세요, 이상혁연구원님. 시험기준에서 어느부분에 대해서 궁금하신가요?
강*철2026-04-21 오전 10:39:08
안녕하세요!
e4ds2026.04.21
안녕하세요! 웨비나에 참여해 주셔서 감사합니다.
민*우2026-04-21 오전 10:36:54
안녕하세요
e4ds2026.04.21
안녕하세요. 웨비나에 참여해 주셔서 감사합니다

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