텔레다인르크로이가 PCI Expressⓡ 6.0 테스트 솔루션을 통해 PCIe5.0 보다 두 배 빠른 64GT/s 속도 지원 요구를 만족시키며, 개발자들의 테스트 부담을 덜어 줄 것으로 기대를 모으고 있다.

텔레다인르크로이(지사장 이운재)는 18일 완전 자동화된 PCIE6 TX-RX 컴플라이언스 테스트 소프트웨어를 발표했다.

이와 동시에 PAMx 신호와 PCIE Gen 6 신호 디버깅 및 특성을 파악할 때 사용할 수 있는 SDAIII-PCIE6와 SDAIII-PAMx 솔루션을 발표했다.

인공지능/머신러닝(AI/ML) 및 고성능 컴퓨팅(HPC) 등 신기술이 발전함에 따라 대용량 데이터를 빠르게 처리할 수 있는 솔루션에 대한 수요가 급증하고 있다.

차세대 PCIeⓡ 6.0에서는 PCIe5.0에서 제공하던 전송 속도 32GT/s 보다 두 배 빠른 64GT/s 속도를 지원할 수 있는 PAM4(멀티 레벨 신호)를 사용하여 빠른 데이터 접근이 필요하다는 요구를 충족시킬 예정이다.

PAM4 방식을 이용하면 빠른 속도로 데이터를 전송할 수 있지만, 멀티 레벨 신호를 다루는 시스템 개발자들에게는 테스트를 수행할 때 여러 가지로 복잡한 과정을 거쳐야 하는 부담감을 준다.

텔레다인르크로이의 새로운 자동화 테스트 소프트웨어 QPHY-PCIE6-TX-RX와 SDAIII-PCIE6 그리고 SDAIII-PAMx는 제품 특성 파악과 디버깅을 수행하는 소프트웨어로, 텔레다인르크로이 LabMaster 10 Zi-A 오실로스코프에서  SDAIII-CompleteLinQ 시리얼 데이터 분석 소프트웨어와 함께 동작해, PCIe 개발자들이 복잡한 PCIe 6.0 디바이스를 테스트하고 디버깅할 때 필요한 분석 툴을 제공한다.

이번에 발표하는 새로운 솔루션은 멀티 레벨에서 발생하는 트랜지션 그룹별로 지터를 계산하고 표시하고, 현재 SigTest에서 사용하는 AC Fit 방식을 이용한 Tx Equalization Preset 테스트를 진행하고 결과를 제공한다.

또한 텔레다인르크로이가 제공하는 트랜스미터 이퀄라이제이션 툴을 이용하여 Preset 커서 값을 사용자가 직접 설정 또는 변경하여 파형을 관측하고 측정할 수 있다.

여기에 SNDR(Signal-to-Noise-and-Distortion-Ratio)는 완성도 높은 오실로스코프 노이즈 보정과 강력한 신호 분석 파형 디스플레이 방식으로 및 신호 분석 결과를 파형으로 표시한다.