전자장치의 크기는 점점 작아지는 반면, 신호의 속도는 빨라지고, 환경 사양 또한 엄격해지고 있습니다. 이러한 전자산업의 방향은 예전에는 없었던 오실로스코프 프로빙 문제를 야기합니다. 이번 발표에서는 일반적으로 발생할 수 있는 다섯 가지의 프로빙 이슈, 즉 큰 오프셋이 존재하는 상태에서의 작은 신호 측정하기, 극한 온도에서의 신호 프로빙, 고밀도 집적회로에서의 프로빙, Infiniimax 프로브 사용 요령, 프로빙 효과(Probing Effect)없애는 방법에 대해 알아보고, 키사이트의 차별화된 솔루션으로 이러한 이슈를 해결하는 방법을 소개해 드리도록 하겠습니다.